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巖土材料無損傷檢測儀（巖土檢測設(shè)備）

建筑資訊網(wǎng) 2024-02-05 21:49:09 429

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巖土材料無損傷檢測儀（巖土檢測設(shè)備）

非接觸式測厚儀工作原理是什么?

X射線測厚儀：此類測厚儀利用的是當X射線穿透被測材料時，X射線強度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。

X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。

建議使用非接觸式測量，因為非接觸測量不會觸碰薄膜，通過間接方式進行測量，例如激光測厚儀ZM10X，通過激光進行測量，對傳感器和被測物都沒有影響和損壞。

測厚儀工作原理 對于X射線，在其穿透被測材料后，射線強度I的衰減規(guī)律為 式中 I0———入射射線強度；μ———吸收系數(shù)；h———被測材料的厚度。

想檢測零部件產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷,哪些設(shè)備可以檢測?