巖土材料無損傷檢測儀(巖土檢測設(shè)備)
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2024-02-05 21:49:09
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非接觸式測厚儀工作原理是什么?
X射線測厚儀:此類測厚儀利用的是當X射線穿透被測材料時,X射線強度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
建議使用非接觸式測量,因為非接觸測量不會觸碰薄膜,通過間接方式進行測量,例如激光測厚儀ZM10X,通過激光進行測量,對傳感器和被測物都沒有影響和損壞。
測厚儀工作原理 對于X射線,在其穿透被測材料后,射線強度I的衰減規(guī)律為 式中 I0———入射射線強度;μ———吸收系數(shù);h———被測材料的厚度。
想檢測零部件產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷,哪些設(shè)備可以檢測?
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